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植物根系测定扫描仪 植物根系分析系统 根系分析测定仪

一、 用途:

LA-90植物根测定仪是一套用于洗根后的多参数根系图像扫描分析系统,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,功能强大,操作简单,广泛运用于根系形态和构造研究。


二、 技术参数及指标:  

1)分析精度:0.05mm?;   

测量总时间:60秒

2)数据存储:图像和测量结果以数据库存储(通过PC);数据可导入电脑;测定结果以Excel表和Word文件;

3)自带标定功能,可实现半自动的尺寸标定及全自动的亮度标定;数据处理:

4)测量最大宽度:22cm

5)图像格式:MSP BMP TIF PCX;

6)品牌:SINTEK(加拿大进口技术)

7)分析速度:根长为25KB/S,根尖记数为10KB/S,扫描速度:>400dpi时22秒,预扫描3秒。

8) 测量参数:

①根总长;

②根平均直径;

③根总面积;

④根总体积;

⑤根尖计数;

⑥分叉计数;

⑦交叠计数;

等等可选功能

 9) 重量:主机LA-90净重约6公斤。

 10)软件:友好界面,采用Windows操作系统,操作简单易学。

11) 配置:多参数根测定仪(1no),SINTEK专用安装光盘(1no),LA-90根系图像分析软件(1no),下载数据线(1no),电源线(1no),仪器US防盗棒(1no),操作说明书(1no),出库单(1no)

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